瓷质的内部结构判定高强瓷强度的优劣

摘要：

本文通过对几组电瓷试验样品的系统分析，详细介绍了热分析、X——射线分析、显微结构等指标在分析瓷质内部结构方面的重要作用。

关键词： 高强瓷 内部结构 热膨胀 X射线衍射 显微结构

作者: 崔焱 张宝福 何学宏

作者单位: 抚顺电瓷制造有限公司，抚顺 113126

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009输变电年会

会议地点: 常州

会议语种:中文

页码: 308-312

在线出版日期: 2009-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）