分析仪器电路自动测试系统的开发

摘要：

提出基于Labview应用程序的自动测试系统的构建及其实现方案,并结合分析仪器电路的特点在硬件上通过引入自动测试工装板以实现自动测试系统在硬件的通用性,在软件上通过将被测数据以整体表格的形式加载运行,使自动测试程序与被测数据实现模块化分离,更进一步提高整个测试系统的通用性和可扩展性。

关键词： 分析仪器 自动测试系统 PCI总线 LabVIEW应用程序

作者: 林文成 王健

作者单位: 杭州电子科技大学,系统集成技术研究所,浙江,杭州,310018

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国冶金自动化信息网2009年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 234-236

在线出版日期: 2009-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）