工业CT在精密元件装配质量检测中的应用

摘要：

某种精密元器件中关键部位的装配质量和匹配状况是保证其性能的一个关键因素。本文利用微焦点X射线CT技术研究了某种精密元件内部结构,结果表明微焦点X射线CT检测技术能有效评估某元件中陶瓷圆筒中心孔与桥箔中心的对中状态及其偏移量的测量。研究表明:X射线三维微焦点CT检测技术可实现某元件内部精细结构的三维、全面分析,结构分辨水平优于20 μm,可为该元器件的设计、工艺成型、可靠性提供最有力的技术支撑.

关键词： 精密元件 装配质量检测 微焦点X射线CT 偏移量 三维图形

作者: 戴斌 张伟斌 田勇 杨存丰

作者单位: 中国工程物理研究院化工材料研究所,四川 绵阳 621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008年全国射线数字成像与CT新技术研讨会

会议地点: 四川绵阳

会议语种:中文

页码: 187-190

在线出版日期: 2008-07-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）