提高原子力显微镜下木材切片图像质量的研究

摘要：

原子力显微镜(Atomic Force Microscopy，简称AFM)是研究物质微观结构及其与功能相关性的一种实验工具，具有非常高的横向分辨率和纵向分辨率，但由于操作模式的选择不同及环境因素的影响，对图像的质量会产生影响。本文通过对木材切片的原子力显微镜扫描，及对原子力显微镜的工作环境及工作模式的选择的讨论，对原子力显微镜图像的提高进行了研究。

关键词： 原子力显微镜 木材切片 图像质量 微观结构

作者: 于雷 戚大伟

作者单位: 东北林业大学哈尔滨 150040

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届中国林业青年学术年会

会议地点: 哈尔滨

会议语种:中文

页码: 1250-1252

在线出版日期: 2008-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）