互耦效应对泰勒阵列天线的影响分析

摘要：

互耦效应是低副瓣阵列天线分析与设计中需要考虑的重要问题.在经典阵列综合方法--泰勒综合法的基础之上,仿真分析了互耦效应对方向图副瓣性能的影响.结果表明,互耦效应对阵列天线的低副瓣性能影响较为严重.

关键词： 互耦效应 低副瓣阵列天线 泰勒综合法 方向图

作者: 石吉锋 洪家财 段玉兴

作者单位: 装备指挥技术学院研究生管理大队,北京,101416 装备指挥技术学院,光电装备系,北京,101416 63772部队,陕西,渭南,714000

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届全国嵌入式技术和信息处理联合学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 190-193

在线出版日期: 2009-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）