应用于中国釉的光学相干断层摄影技术的研究

摘要：

在本项研究中，使用了光学相干断层摄影技术(OCT)对来自中国宋代(10-13世纪)六大名窑的碎片进行了扫描以便观察其釉层的亚表面形态。OCT是一种非破坏性两维断层摄影系统，可通过靶标本中折射率或介电常数的差异以视觉观察样品的亚表面形态。这种图像揭示了不同样品中独特的物相聚集模式。研究结果说明，OCT可以用于鉴定陶瓷并提供其制造工艺的信息。

关键词： 相干断层 摄影技术 釉层亚表面形态 折射率 介电常数 物相聚集 陶瓷鉴定 制造工艺

作者: Meili Yang Amy M．Winkler Jennifer K．Barton Pamela B．Vandiver 谭浩然 刘泽墉 谭浩然

作者单位: The Heritage Conservation Science Program in the Department of Materials Science and Engineering，Uni The College of Optical Sciences，University of Arizona.Tucson，AZ 85721-0240，USA Division of Biomedical Engineering.University of Al”iZOlla.Tucson，AZ 85721-0240，USA

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009年古陶瓷科学技术国际学术讨论会(ISAC”09)

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 469-475

在线出版日期: 2009-03-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）