超细二氧化硅粉体脱除羟基方法的比较

摘要：

采用醇盐水解法制备球形超细二氧化硅粉体，成分分析和IR检测表明二氧化硅样品中含有大量的羟基，羟基的存在限制了二氧化硅的应用.采用了不同的方法焙烧二氧化硅样品，研究二氧化硅超细粉体脱除羟基，比较各方法脱除羟基对样品纯度和成分的影响，得到了样品失重曲线.实验结果表明，通过脱除羟基超细SiO2的纯度得到提高，可达到99.92％，实验得到了最好的脱除羟基方法.

关键词： 超细二氧化硅粉 醇盐水解法 羟基脱除 成分分析

作者: 申晓毅 翟玉春 陈昆明

作者单位: 东北大学 材料与冶金学院，辽宁 沈阳 110004

会议类型: 国内会议

会议名称: 2006年全国博士生学术论坛——冶金工程分论坛

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 193-196

在线出版日期: 2006-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）