谐振环厚度对负折射指数物质的电磁特性影响

摘要：

构造两种结构负折射指数物质(NRM)，利用数值模拟计算两种结构的S参数。由于这种结构尺度比波长小，为精确利用有限积分技术(FIT)进行模拟。通过对这两种结构中谐振环厚度变化对金属谐振频率影响进行模拟，最后得出由于谐振环间耦合，谐振环厚度对称破缺影响谐振环谐振频率和通带，并对等效负折射指数为负的频带产生影响。

关键词： 负折射材料 负折射指数 谐振环厚度 电磁特性 有限积分法 数值模拟 谐振频率

作者: 冯宇 吴健 宋建平 潘艳

作者单位: 西安交通大学电子科学系，陕西西安，710049 中国电波传播研究所电波环境及模化技术国家重点实验室，北京，102206 中国人民解放军61081部队，北京，100094

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国科协第四届优秀博士生学术年会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 1129-1134

在线出版日期: 2006-11-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）