基于XRD的涂层界面结合强度的实验研究

摘要：

本文利用X射线衍射技术(XRD)测试了涂层及其基体材料的应力及其变化规律,建立了一种涂层结合界面应力检测系统,进行界面结合状态的检测研究。分析了X衍射法测量涂层界面结合强度的原理、方法与过程,其检测涂层界面结合强度方法可对试样进行非接触检测,适用于晶体或多晶体涂层的界面结合强度测量,创立一种研究检测涂层结合强度的实验新方法。

关键词： 金属复层 多晶涂层 界面强度 薄膜测量

作者: 孔德军 张永康 鲁金忠 冯爱新

作者单位: 江苏大学机械工程学院,镇江 212013

会议类型: 国内会议

会议名称: 2006年全国博士生学术论坛——材料科学分论坛

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 259-261

在线出版日期: 2006-10-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）