会议专题

学习障碍儿童额顶叶工作记忆功能的fMRI和DTI联合应用研究

本研究联合应用BOLD-fMRI和DTI两种最新的磁共振成像技术,对比分析学习障碍(LD)儿童与正常儿童在进行工作记忆过程额顶叶脑部激活区域强度以及白质纤维发育的差异,探索儿童学习障碍的病因机制。

儿童 学习障碍 工作记忆 脑功能成像 弥散张量成像

潘初 漆剑频 朱文珍 王承缘 夏黎明

华中科技大学附属同济医院放射科

国内会议

第十届全国神经放射学学术会议暨广东神经放射学第一次学术会议

广州

中文

428-434

2008-09-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)