锁相环在振荡器相位噪声测试中的工作机理和影响

摘要：

在相位噪声测试系统中,采用相位检波技术,测试电压抖动直接正比于两个源间的相位抖动。在实际系统中,两源不能直接保持相位正交,而是在反馈通路使用一个二阶锁相环,对其中一个振荡器进行电压控制,来自锁相环的误差电压对其中一个源进行压控,强制它跟踪另一个源,以达到相位正交,测试振荡器相位噪声。介绍了锁相技术及它对相位噪声测试的影响。

关键词： 相位噪声测试 振荡器 锁相环 相位检波

作者: 刘红春

作者单位: 中国电子科技集团公司第13研究所,河北石家庄 050051

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008年全国频率控制技术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 65-68

在线出版日期: 2008-11-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）