关于短期频率稳定度的分析

摘要：

主要通过描述晶体外接负载阻抗的影响与晶体负载阻抗的串并联等效电路的不同分析了短期频率稳定度与有载Q值之间的关系。

关键词： 晶体振荡器 有载Q值 短期频率稳定度 晶体负载阻抗 串并联电路

作者: 陈金和 杨彦

作者单位: 北京无线电计量测试研究所,北京 100039

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008年全国频率控制技术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 292-293

在线出版日期: 2008-11-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）