高阻ZnO单晶的热激发光、热激电流及热电效应谱测量

摘要：

我们对水热法生长的高阻ZnO单晶,在进行热激电流(TSC)和热电效应谱(TEES)测量的同时,也进行了的热激发光(TL)的测量。在80-400K的温度范围内,测出多达13个深能级。热激电流所测的深能级大部分为空穴陷阱。热激电流与热激发光的温度谱有很大差别。它们呈互补行为,可能是非平衡载流子在不同的温度下,其寿命不同所致。

关键词： 高阻氧化锌单晶 陷阱能级 热激电流 热电效应谱 热激发光 水热法生长

作者: 李成基 李弋洋 曾一平

作者单位: 中国科学院半导体研究所, 北京 100083

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 838-841

在线出版日期: 2008-11-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）