BC3192 VXI校准方法及测量不确定度分析与评定

摘要：

BC3192 VXI数模混合集成电路测试系统基本设计目标是对数字集成电路、模拟集成电路进行功能测试和参数测试。本文根据常用测量不确定度评定方法,规定了BC3192 VXI数模混合集成电路测试系统的校准条件、校准项目、校准方法,校准结果的处理及校准周期。并对其测量不确定度进行分析和评定。本方法适用于BC3192 VXI数模混合集成电路测试系统的校准。

关键词： 数模混合集成电路 测试系统 不确定度 校准分析

作者: 余彦胤 杨有莉

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会电子测量与仪器专委会2005年学术年会(第十二届)

会议地点: 四川绵阳

会议语种:中文

页码: 1-6

在线出版日期: 2005-09-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）