集成电路测试技术

摘要：

本文通过对IMS公司生产的集成电路测试系统ATS60e的介绍,讨论了数字集成电路(IC)测试方法及其在ATS60上的应用,并以大规模集成电路芯片8254为例,给出该集成电路测试系统测试芯片时从功能分析到具体参数测试的应用过程。

关键词： 数字集成电路 测试芯片 测试技术

作者: 王子云 龙祖利

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会电子测量与仪器专委会2005年学术年会(第十二届)

会议地点: 四川绵阳

会议语种:中文

页码: 24-27

在线出版日期: 2005-09-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）