扇形磁质谱多接收电感耦合等离子体质谱法测定微量氪和氙
电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)的离子源有很高的电离温度(约8 000 K),可以电离周期表中的绝大多数元素,主要用于溶液样品的分析。Hutton等人重新设计了一套气体进样系统,首次用ICP-MS对气体样品进行分析,实现了硅烷(SiH4)中痕量杂质的测定。而氪和氙因为电离电位极高,电离效率非常低(Kr约为10-7,Xe约为10-6),一直以来被认为是不能采用等离子电离源质谱分析的元素。本实验室结合目前所有的条件,对采用ICP-MS测定氪、氙含量进行实验,初步定性分析了空气及高纯氩气工作气体中氪和氙的本底,回答了能否进行氪、氙分析,能不能扣除本底的问题,并对进一步定量分析氪、氙的含量所必须的气体进样系统及气体同位素稀释装置进行了设计。
扇形磁质谱 电感耦合等离子体质谱法 微量氪 氙含量测定 同位素稀释
刘雪梅 龙开明 杨天丽 刘钊 汤磊
中国工程物理研究院,核物理与化学研究所,四川 绵阳 621900
国内会议
中国物理学会质谱分会第八届全国会员代表大会暨第九届全国学术交流会
海口
中文
67-70
2008-12-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)