溅射功率对ZnO薄膜结构和发光性能的影响
在玻璃衬底上采用射频磁控溅射法,固定其他工艺参数、改变溅射功率制备了ZnO薄膜。通过对薄膜进行XRD和室温光致发光(PL)谱测量,研究了溅射功率对ZnO薄膜结构和发光性能的影响及薄膜结构与发光性能两者之间的关系。溅射功率从20 W到180 W之间变化中,当溅射功率为100 W时结晶质量和发光性能均达到最优化。继续升高溅射功率时,结晶质量和发光性能都下降。
磁控溅射 氧化锌薄膜 光致发光 溅射功率 发光性能 结晶质量 薄膜结构
肖锋伟 江洪湖 李倩 郑新亮
西北大学物理学系,陕西西安 710069
国内会议
西安
中文
110-113
2008-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)