会议专题

基于激光干涉法精密测量材料线膨胀系数装置的研究

阐述了中国计量科学研究院自行设计和研制的基于激光干涉法材料线膨胀系数测量的装置.该装置采用单频激光干涉法测量样品长度变化.为了消除样品自重带来的影响,进行了新的光路设计,以实现材料线膨胀系数的绝对测量,其分辨率小于1 nm.在常温下采用美国国家标准技术研究院(NIST)标准参考物质硼硅酸玻璃进行了测试,测得材料线膨胀系数与NIST公布值的相对偏差在1.2%以内,结果证明,该测量装置的性能是可靠的.

材料线膨胀系数 激光干涉仪 单频激光干涉法 计数器 精密测量 国家标准

孙建平 范开果 荆卓寅 王建华

中国计量科学研究院,北京 100013 北京工业大学,北京 100022 长城计量测试技术研究所,北京 100095

国内会议

2008年全国几何量精密测量技术学术交流会

北京

中文

164-167

2008-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)