纳米阻抗显微镜的研制及商品化

摘要：

纳米阻抗显微镜(Nanoscale impedance microscopy,NIM)能够测量材料表面的纳米微区阻抗性质,已经成为纳米材料表征的重要工具,得到越来越多的应用；但其应用目前仅局限于实验室范围,而国内尚未有纳米阻抗显微镜研究的文献报道.本文主要介绍纳米阻抗显微镜的基本原理及其仪器的研制.以国内外现有的扫描探针显微镜仪器为基础,研制出了两套不同的纳米阻抗显微镜样机,并率先实现了这种技术的商品化,还利用该技术开展了氧化锌多晶陶瓷材料的应用研究.

关键词： 纳米阻抗显微镜 扫描探针显微镜 商品化 纳米材料表征 氧化锌 多晶陶瓷材料

作者: 丁喜冬 关景新 黄龙飞 吴浚瀚

作者单位: 中山大学,物理科学与工程技术学院,广州,510275 本原纳米仪器有限公司,北京,100080

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届中国国际纳米科技(武汉)研讨会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 165-168,172

在线出版日期: 2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）