SiO2玻璃陶瓷与TC4钛合金的活性钎焊
分别采用活性钎料AgCuTi和TiZrNiCu对SiO2陶瓷和TC4钛合金进行了真空钎焊连接,使用扫描电镜和X射线衍射等手段对钎焊接头的界面组织和力学性能进行了研究.结果表明,采用两种钎料均能够实现对SiO2陶瓷和TC4钛合金的连接.SiO2/TiZrNiCu/TO4接头的典型界面结构为；SiO2/Ti2O+Zr3Si2+Ti5Si3/(Ti,Zr)+TiZrNiCu/Ti(s.s)/TiZrNiCu+Ti(s.s)+Ti2(Cu,Ni)/TC4，SiO2/AgCuTi/TC4接头的典型界面结构为；SiO2/TiSi2+Ti4O7/TiCu+Ou2Ti4O/Ag(s.s)+Cu(s.s)/TiCu/Ti2Cu/Ti+Ti2Cu/TC4.当钎焊温度为880℃、保温时间为5min时.SiO2/TiZrNiCu/TC4接头的最高抗剪强度为23MPa.当钎焊温度为900℃、保温时间为5min时.SiO2/AgCuTi/TC4接头的最高抗剪强度为27MPa.
钛合金 界面结构 抗剪强度 SiO2玻璃陶瓷 活性钎焊 力学性能
刘多 冯吉才 张丽霞 何鹏
哈尔滨工业大学现代焊接生产技术国家重点实验室 哈尔滨工业大学金属精密热加工国防科技重点实验室
国内会议
北京
中文
213-217
2008-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）