会议专题

2520型脉冲激光二极管测试系统校准和测试方法研究

随着半导体技术的不断发展,新型器件不断涌现,相应地,出现了大量的半导体专用测量仪器。因此,对计量工作提出了更新、更高的要求。详细介绍了2520型脉冲激光二极管测试系统的校准和测试方法。该系统用于激光二极管和光电二极管的参数测试。系统包括激光二极管测试所需的大电流源和电压表,还包括双通道光电二极管测试所需的两个稳定的DC偏置电压源和两个低噪声电流表。介绍了系统的指标和工作原理,重点介绍了光电二极管测最部分和激光二极管测量部分的校准,还介绍了使用脉冲电流输出时的原理和测试要点。对该系统的使用人员和校准人员,很有参考价值。详细介绍了2520型脉冲激光二极管测试系统的校准及测试方法。

脉冲激光二极管 参数测试系统 校准方法 大电流源 DC偏置电压源 低噪声电流表

孙静 陈晓华 韩利华

河北半导体研究所

国内会议

2007计量与测试学术交流会(ICMM 2007)

北京

中文

190-194

2007-09-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)