基于低速A/D相噪测试系统扩展测量频偏实现

摘要：

针对相位噪声测试系统的应用场合，提出了一种利用低速A/D扩展所能测量的付氏频偏(￡)的方法。该方法利用相位噪声功率谱密度分布特点和带通取样定理，通过对各类噪声的来源、对频率稳定度的影响分析，给出了带通取样的思路和相应的MATLAB仿真结果。

关键词： 相位噪声 功率谱密度 带通取样 A/D转换器 测试系统 测量频偏 频率稳定度

作者: 丁孝永 冯克明

作者单位: 无线电计量测试研究所,北京,100039

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007计量与测试学术交流会(ICMM 2007)

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 337-343

在线出版日期: 2007-09-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）