CeO2(111)表面氧空缺的扩散机理的密度泛函研究
CeO2材料具有独特的储放氧性能,在工业催化中有着广泛应用。在实际反应中,活性位附近的氧被消耗掉后形成氧空缺,通过氧空缺的扩散,远处和体相的氧可以迁移补充到活性位附近。近年来,理论计算研究了CeO2体相空缺的迁移机理然而,对于氧缺陷在表面的扩散机理,目前仍然不是很明确。因此,本文中我们有采用密度泛函理论计算研究了CeO2(111)表面氧空缺的扩散,并进一步探讨CEO24f道特性与空缺扩散之间的联系,以及CeO2具有储放氧性能的本质原因。
CeO2材料 表面氧空缺 空缺扩散 密度泛函理论 工业催化 储放氧性能
李会英 郭杨龙 龚学庆 王海丰 郭耘 卢冠忠 P.Hu
结构可控先进功能材料及其制备教育部重点实验室,华东理工大学工业催化研究所,上海 200237 School of Chemistry and chemical engineering,The Queen”s University of Belfast,United Kingdom
国内会议
青岛
中文
217-218
2007-08-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)