高温高压条件下金刚石单晶生长界面Auger电子能谱研究

摘要：

本文用Auger电子能谱技术分别进行金刚石单晶生长界面的金属膜表面及附近碳原子的精细Auger谱分析，金刚石单晶附近及其表面的Auger谱精细结构分析。研究结果表明，在高温高压有催化荆参与下金刚石单晶生长是双界面生长，存在两个主界面D—M及M—G。高温高压条件下石墨中碳原子经过“过渡层”及“金属催化剂层”才能将碳原子的电子构形从SP2π态改变成SP3态，从而以碳原子的金刚石四面体结构长到金刚石表面，金刚石晶格结构的形成是在金刚石表面层完成的。

关键词： 高温高压 金刚石单晶 单晶生长界面 Auger电子能谱 金属膜表面 晶格结构

作者: 李颖 郝兆印

作者单位: 河南工业大学 450007 吉林大学超硬材料国家重点实验室 130023

会议类型: 国内会议

会议名称: 2005中国超硬材料技术发展论坛

会议地点: 石家庄

会议语种:中文

页码: 53-55

在线出版日期: 2005-09-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）