Se75γ射线透照工艺性能试验

摘要：

通过透照试验，比较了Se75γ射线源与X射线源、Ir192 γ射线源的照相特性，以及不同射线源与不同种类胶片和不同厚度增感屏的组合系统的照相灵敏度；测定了Se75 γ射线源的透照厚度与灵敏度的关系，提出了Se75射线照相适用的厚度范围。

关键词： γ射线源 照相特性 透照工艺 性能试验 透照厚度 灵敏度

作者: 强天鹏 李兆太 顾阎如 王东 李伟 江枫

作者单位: 江苏省锅炉压力容器安全检测中心所 中石化第二建设公司 燕山石化公司 北京市燃气集团公司压力容器检测站

会议类型: 国内会议

会议名称: 2005年特种设备安全国际论坛

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 235-239

在线出版日期: 2005-11-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）