功能性聚酰亚胺薄膜的研制

摘要：

通过原位聚合法,将纳米粒子Al2O3引入聚酰亚胺基体中,制备了具有不同Al2O3含量的Al2O3/PI杂化薄膜.研究结果表明:当Al2O3的质量分数小于10％时,杂化薄膜的拉伸强度和电击穿强度与纯薄膜相当;当Al2O3的质量分数为10％时,杂化薄膜的电老化寿命是纯薄膜的3.4倍,失重5％的温度比纯薄膜提高了42℃;随着Al2O3质量分数的增加,杂化薄膜的线膨胀系数呈下降趋势.

关键词： 原位聚合 耐电老化性 聚酰亚胺 纳米粒子 杂化薄膜 线膨胀系数

作者: 胡爱军 吴俊涛 王德生 范琳 杨士勇

作者单位: 中国科学院化学研究所高技术材料实验室,北京,100080

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届先进功能复合材料学术交流会暨先进功能复合材料技术国防科技重点实验室学术交流会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 23-26

在线出版日期: 2005-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）