电磁式剩余电流断路器与电子式剩余电流断路器对比分析

摘要：

本文从产品结构、试验等方面对电子型和电磁型剩余电流断路器在实际使用中的可靠性进行了分析。

关键词： 高温老化 电磁干扰 断路器 产品结构

作者: 胡宏宇 刘丽萍

作者单位: 北京ABB低压电器有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国建筑电气设计技术协作及情报交流网2005年年会

会议地点: 乌鲁木齐

会议语种:中文

页码: 128-132

在线出版日期: 2005-09-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）