荧光灯IEC高频测量条件与性能分析系统

摘要：

本文介绍了荧光灯IEC高频测量方法，分析了普通恒流源等效测量方法存在的问题，提出了一种性价比较高的荧光灯高频性能分析测量系统，该系统融合了IEC标准测量方法的技术要点，并对原IEC系统进行改进，成功解决了现今荧光灯高频参数测量过程中数据准确性与实施成本之间存在的问题。

关键词： 荧光灯 高频参数测量 IEC标准

作者: 潘建根 丁鹏飞 王万良

作者单位: 杭州远方光电信息有限公司 浙江工业大学信息工程学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 2005全国电子镇流器技术及市场应用研讨会

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 48-55

在线出版日期: 2005-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）