电压引线距离对Bi2223/Ag带材Ic和n值测量结果的影响

摘要：

研究了采用四引线法测量Bi2223/Ag带材的Ic和n值时，电压引线距离对测量结果的影响。实验结果表明，对于同一根Bi2223/Ag带材，在不同的电压引线距离下，采用四引线法测得的，Ic和n值(尤其是最小值)结果不同；n值弱点对带材端对端n值的影响比Ic弱点对带材端对端Ic的影响更大；对于百米量级的长带，通过测最带材端对端以及抽样短样的Ie和n值，很难检测出弱点，必须采用四引线法在较小的电压引线距离下逐段检测或者采用非接触连续磁测法进行检测。

关键词： 电压引线距离 四引线法 超导带材 连续磁测法

作者: 张正臣 周义刚 孔令启 李晓航 肖立业

作者单位: 中国科学院应用超导重点实验室,北京 1O0080;中国科学院电工研究所,北京 100190;中国科学院研究生院,北京 100049 中国科学院应用超导重点实验室,北京 1O0080;中国科学院电工研究所,北京 100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国超导学术研讨会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 416-419

在线出版日期: 2007-12-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）