温度对TFA-MOD制备YBCO薄膜的影响
采用TFA-MOD方法在YSZ单晶基底上制备YBCO薄膜,主要研究高温热处理阶段温度对薄膜微结构和超导电性的影响。采用X射线衍射和扫描电镜分别对相组成与形貌进行分析。结果显示在800-830℃之间,能够获得纯的YBCO相,同时随着晶化温度的降低,薄膜面内α轴晶粒减少,有利于薄膜超导电性的改善。
超导薄膜 超导电性 X射线衍射 扫描电镜
金利华 卢亚锋 熊晓梅 刘奉生 于泽铭 白利锋 李成山
西北有色金属研究院,陕西西安 710016
国内会议
武汉
中文
576-579
2007-11-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)