不同强电磁脉冲孔缝耦合效应的研究

摘要：

本文采用时域数值仿真和傅立叶变化研究了快上升沿电磁脉冲(FREMP)和核电磁脉冲(NEMP)作用下屏蔽腔体孔缝耦合效应和内置的微带线电路板端口电压的响应，研究表明：由于电子设备的小型化，在目标腔体和孔缝尺寸都较小的情况下，FREMP相对于NEMP更容易通过腔体上的孔缝耦合进入目标腔体，对电子设备造成更大的影响。

关键词： 电磁脉冲 屏蔽腔 孔缝 耦合效应 电压响应

作者: 颜克文 阮成礼 吴多龙

作者单位: 电子科技大学,成都 610054 广州海格通信集团有限公司,广州 510663

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届全国毫米波亚毫米波学术会议

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 5-8

在线出版日期: 2008-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）