一种测量纳米材料高频特性的新方法

摘要：

本文介绍一种使用同轴线制备简易高频测试平台、运用射频设备测量纳米尺度样品高频性能的方法。使用该方法，窄脉冲射频信号在传输线中的延时测量精度达到10皮秒左右，发现了铜芯同轴传输线与多壁碳管同轴传输线的传输特性的区别。这一方法有可能推广到测试其他小尺度样品高频特性的研究中。

关键词： 纳米材料 高频特性 同轴传输线 高频测试平台 射频测量

作者: 王艳新 杨勇 裴东斐 赵昕 许胜勇

作者单位: 纳米器件物理与化学教育部重点实验室,北京大学电子学系 北京大学元培学院 北京大学物理学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届安捷伦科技节暨安捷伦科技生命科学与化学分析技术高层论坛、安捷伦测量科技论坛

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 10-14

在线出版日期: 2009-04-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）