高精度相位特性测量系统设计与实现

摘要：

元器件、模块和接收通道的相位特性(相-频特性、相位-温度特性等)是射频系统设计中需要考虑的一个重要指标；本文提出了一种基于带通采样定理，使用数据采集系统和数字信号处理方法的高精度相位特性测量系统，描述了该系统的设计方案和采用的相位检测方法，通过实际系统测量对系统的性能进行了验证。该系统在宽温度范围内可以测量工作频率在500MHz以下元器件、模块以及输出信号频率低于500MHz的接收通道的栩位特性，亦可刚于单频信号的高精度相位测量。实际测试结果表明测量分辨力可达到0.025度(RMS)。

关键词： 高精度测量 相位特性测量 射频系统 带通采样定理 数据采集 数字信号处理

作者: 周良将 梁兴东 丁赤飚

作者单位: 中国科学院电子学研究所 微波成像技术国防重点实验室 北京 100190;中国科学院研究生院 北京 100049 中国科学院电子学研究所 微波成像技术国防重点实验室 北京 100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届安捷伦科技节暨安捷伦科技生命科学与化学分析技术高层论坛、安捷伦测量科技论坛

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 192-195

在线出版日期: 2009-04-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）