部分阵元损伤对相控阵天线性能的影响

摘要：

针对二维扫描阵列天线，相位加权和幅度加权可以增强天线增益和降低天线副瓣电平.本文通过分析规则部分阵元损伤后对阵列天线性能的影响，得出了有用的结论，对分析相控阵天线等大型阵列天线的随机损伤后其性能的变化有重要的指导意义.

关键词： 相控阵天线 阵元损伤 幅度加权 相位加权 旁瓣电平 天线增益

作者: 陈琳 赵菲 彭达 柴舜连 毛钧杰

作者单位: 国防科学技术大学电子科学与工程学院，湖南 长沙 410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008年全国电磁兼容学术会议(EMC”08)

会议地点: 贵阳

会议语种:中文

页码: 175-183

在线出版日期: 2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）