工业射线DR/ICT一体化检测试验系统(一)系统硬件部分

摘要：

本文研制了具有多探测器、多射线源切换功能的射线DR/ICT一体化检测试验系统,覆盖了国际上大力发展的射线数字成像检测技术。该试验系统的研制,形成了我国自主产权系列化射线数字成像产品研发的能力,为射线成像检测技术研究提供了条件。

关键词： 工业分析 射线检测 数字成像 检测设备

作者: 丁克勤 粱丽红 傅健

作者单位: 中国特种设备检测研究中心,北京市朝阳区和平街西苑2号楼,100013 北京航空航天大学,北京市海淀区学院路37号,100083

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年四川省理化检验 无损检测学术交流年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 63-67

在线出版日期: 2007-10-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）