纳米压入法测量中初始接触点判断问题研究
对于纳米压入法,在加载过程中,压头尖与试样表面的初始接触点必须判断准确,初始接触点判断的精度将对测量结果产生很大的影响.本文利用西安交通大学精密工程研究所研制的微力微位移测试仪,对初始接触点判断的相关问题进行了深入研究.在压头尖与试样表面接触前,由电容测微仪测得的位移值是加载装置空载下的输出值;而当压头尖与试样表面接触后,压头与试样之间将产生作用力,使电容测微仪的测量值偏离加载装置空载下的输出曲线趋势.分别用一直线和一多项式曲线对压头无载荷和有载荷作用时测得的电压位移曲线进行拟合,拟合直线和曲线的交点即可作为初始接触点.大量的实验表明,运用上述方法可使初始接触点的判断精度在±10nm.
纳米压入法 电容测微仪 接触点 微位移测试仪
杨树明 朱强 赵则祥 蒋庄德
机械制造学院工程国家重点实验室西安交通大学精密工程研究所,陕西,西安,710049 中原工学院,河南,郑州,450007
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2003-08-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）