纳米压痕和划痕法测定氧化硅薄膜材料的力学特性

摘要：

为了研究不同制备工艺对材料力学性能的影响,选择了热氧化、LPCVD和PECVD三种典型工艺,在硅片上制备1μm氧化硅薄膜.通过纳米压痕和划痕检测可知,热氧化工艺制备的SiO2薄膜的硬度和模量最大,LPCVD制备的样品界面结合强度高于PECVD.纳米压痕和划痕技术为此提供了丰富的近表面弹塑性变形和断裂等的信息,是评价微米薄膜力学性能的有效手段.

关键词： 纳米压痕 纳米划痕 力学特性 氧化硅 热氧化 力学性能 微米薄膜

作者: 张海霞 张泰华 郇勇

作者单位: 北京大学微电子研究院,北京,100871 中国科学院力学研究所非线性力学国家重点实验室,北京,100080

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国微米/纳米第六届学术年会

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 245-248

在线出版日期: 2003-08-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）