会议专题

一种提高非球面干涉检验补偿波面相位精度的方法

应用计算全息图(CGH)作为补偿器件,干涉检验非球面形状误差具有重要的发展前景。在石英基片上刻蚀相位型CGH时,相位深度量值会影响相位型计算全息器件出射波面的相位精度。本文针对刻蚀速率沿刻蚀腔中心向四周递减的特性,从标量衍射理论出发,据二元光学器件特征参数与相位调制精度关系研究得出:同样的刻蚀深度不均匀度(用百分数表示),CG门的出射波面畸变随相位深度的减小而减小,在保证透射波面衍射效率的情况下,通过优化刻蚀深度,控制出射波面的相位精度。为便于用标准器具验证,制作台阶深度为550nm相位型CGH,将球面波转化成平面波。通过干涉测试该CGH出射波前,很好地验证了上述结论。

CGH 计算全息图 非球面形状误差 相位深度量值 刻蚀 干涉测量 标量衍射 波面相位精度

马骏 朱曰宏 高志山

南京理工大学电子工程与光电技术学院,江苏南京 210094

国内会议

2008年全国博士生学术会议(光学测试新理论、新技术)

长春

中文

113-119

2008-07-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)