光子晶体光纤与普通单模光纤熔接损耗的理论分析与测试实验

摘要：

基于全矢量有限元法，在1550 nm波段对光子晶体光纤与普通单模光纤的熔接损耗机制进行了理论分析，指出模场失配是造成两者熔接损耗的最主要因素；提取自制的光子晶体光纤实际截面，仿真出由模场失配引入的熔接损耗。采用常规电弧放电熔接技术,通过反复实验给出了一组优化的熔接参数，可以在保证熔接强度下尽量保持空气孔不塌陷，并根据自制的光子晶体光纤具有掺锗芯子而采用重焊操作可以有效地缓解两种光纤模场的失配来降低熔接损耗，实现了光子晶体光纤和普通单模光纤的低损耗熔接。

关键词： 光子晶体光纤 光纤熔接损耗 有限元法 模场半径 模场失配

作者: 李宏雷 娄淑琴 郭铁英 王立文 陈卫国 简水生

作者单位: 北京交通大学全光网络与现代通信网教育部重点实验室,北京,100044;北京交通大学光波技术研究所,北京,100044

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008年全国博士生学术会议(光学测试新理论、新技术)

会议地点: 长春

会议语种:中文

页码: 92-97

在线出版日期: 2008-07-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）