一种简易FLASH无效块处理方法的设计与实现

摘要：

FLASH(闪存)已广泛应用于超大容量数据存储测试领域中。本文为提高数据可靠性，提出了一种跳过无效块进行存储和读数的无效块处理方法。其核心思想是只对FLASH的有效存储空间进行相关操作。文章对无效块的检测流程、软硬件设计原理及实现方法进行了详细的论述。

关键词： FLASH 无效块处理 闪存 数据存储测试 数据可靠性 检测流程

作者: 马游春 方媛 李锦明 王文杰

作者单位: 中北大学电子测试技术国家重点实验室，山西太原030051

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国兵工学会第十四届测试技术年会暨中国高等教育学会第二届仪器科学及测控技术年会

会议地点: 吉林延吉

会议语种:中文

页码: 1-4

在线出版日期: 2008-07-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）