基于同轴全息的高精度粒径测量影响因素分析

摘要：

数值重构产生的粒子高分辨力的再现像和粒径高精度测量受到诸多因素的影响。本文利Matlab7.0软件通过计算机仿真及实验主要研究了记录距离和粒子浓度两个因素对粒径测量精度的影响，给出了最佳记录距离的范围，同时提出了利用再现光场复振幅的实部定位粒子和基于灰度梯度的双阈值边缘检测来进行粒径测量的方法，并通过仿真及实验进行了验证，粒子定位及粒径计算平均误差小于5％。

关键词： 数字同轴全息 粒径测量 数值重构 数字图像处理 光场复振幅 边缘检测

作者: 李志斌 郑刚 夏飞

作者单位: 上海电力学院电力与自动化工程学院，上海200090;上海理工大学光学与电子信息工程学院, 上海200093 上海理工大学光学与电子信息工程学院, 上海200093 上海电力学院电力与自动化工程学院，上海200090

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国兵工学会第十四届测试技术年会暨中国高等教育学会第二届仪器科学及测控技术年会

会议地点: 吉林延吉

会议语种:中文

页码: 1-5

在线出版日期: 2008-07-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）