PIV 用于微尺度滑移长度测量的问题

摘要：

本文简单介绍了滑移边界条件的基本概念、测量壁面滑移的实验方法，着重分析了焦平面厚度等几个重要因素在MicroPIV壁面滑移测量中的影响。根据实验发现的近壁粒子浓度非线性分布现象，解释了测量速度偏大的可能原因。

关键词： 滑移边界条件 微尺度滑移测量 长度测量 PIV技术 焦平面厚度

作者: 李战华 郑旭

作者单位: 中国科学院力学研究所LNM 实验室，100190，北京

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届全国流动显示学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 1-6

在线出版日期: 2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）