功能测试与结构测试相结合的RISC微处理器测试及可测性设计方法

摘要：

功能测试和结构测试是微处理器两种主要的测试途径。本文介绍了我们如何将功能测试与结构测试有机地结合。在测试开销和测试覆盖率之间取得折中，以较低的测试代价得到高可靠性的RISC微处理器测试及可测性设计方法的研究成果。

关键词： 可测性设计 功能测试 结构测试 故障仿真 微处理器 设计方法

作者: 杜俊 赵元富

作者单位: 中国航天时代电子公司研究院微电子技术研究部

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国航天时代电子公司第一届学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 83-87

在线出版日期: 2004-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）