XRF在铝工业分析中的应用

摘要：

本文综述了X荧光光谱在铝工业的应用，包括铝电解质分子比的测定、氧化铝中杂质的测定；纯铝中杂质元素的测定；铝合金中稀土元素的XRF测定。

关键词： 分子比 氧化铝 纯铝 铝合金 荧光光谱

作者: 张淑英 高新华 李雅清

作者单位: 北京有色金属研究总院 北京钢铁研究总院

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004年中国铜铝加工装备研讨会

会议地点: 江苏常州

会议语种:中文

页码: 290-294

在线出版日期: 2004-06-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）