破坏性物理分析(DPA)--提高电子装备可套性的重要手段

摘要：

介绍了DPA(Destructive Physical Analysis)的概念、内容，航天系统开展DPA的过程及所取得的成效，进一步阐述了DPA及与失效分析相结合，对于提高电子装备半导体器件可靠性具有重要意义。

关键词： 电子装备 可靠性 物理分析

作者: 朱明让 朱军辉 余振醒

作者单位: 中国航天科技集团

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第三届航空航天装备失效分析会议

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 5～12

在线出版日期: 2000-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）