电子元器件噪声试验系统及试验方法初探

摘要：

该文介绍了噪声试验系统的原理、结构，研究了在噪声试验中样品的固定方法，讨论了噪声对元器件性能的影响和噪声试验的适用范围。

关键词： 电子元器件 噪声试验

作者: 王蕴辉

作者单位: 电子产品可靠性与环境试验研究所(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届电子产品可靠性与环境试验技术经验交流会

会议地点: 怀化

会议语种:中文

页码: 143～148

在线出版日期: 1999-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）