非参数统计方法在长期储存试验中的应用初探

摘要：

该文扼要介绍了把Kaplan-Meier疾病非参数统计理论应用于军用少量样品的长期储存试验中的基本方法的步骤，在不作寿命分布形式假定的前提下，仅从少量失效数来推断试样的可靠性特征，并对不同环境下的试验结果，给出储存试验寿命是否有差异的统计验证方法，这些方法均在计算机上给出数值分析结果。

关键词： 电子元器件 军用电子设备 储存试验 非参数统计

作者: 刘建明 陈新苹

作者单位: 部五所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会电子产品防护技术”98研讨会

会议地点: 庐山

会议语种:中文

页码: 152～158

在线出版日期: 1998-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）