电子元器件测试系统选型中的若干问题

摘要：

该文探讨了测试需求和测试成本之间，测试系统和测量体制之间，测试系统和测试技术之间的关系，比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统，选择小型测试系统和中、大型测试系统的利弊，并对系统的选型和评价提出了看法。

关键词： 电子元器件 集成电路

作者: 孙铣

作者单位: 北京华峰测控技术公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 149～157

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）