电子元器件防霉技术研究

摘要：

该文论证了电子元器件在贮顾使用现场存在各种霉菌的真实情况，详细分析了霉菌的特点及其危害，根据产品的霉变机理和国内外的实践经验，全面地总结了预防霉菌的各项措施。

关键词： 电子元器件 防霉技术 霉变机理

作者: 刘春和 李久祥 袁玉华

作者单位: 中国人民解放军80811部队

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十一届电子元件学术年会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 72～76

在线出版日期: 2000-11-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）