γ与EMP综合辐射与单项辐射对电子元器件损伤效应异同性研究

摘要：

该文介绍了γ与EMP辐射及γ与IEMP辐射两种试验方法，研究了γ与EMP综合辐射与单项辐射对电子元器件损伤效应的异同性，并给出了初步试验结果。在国内没有γ与EMP综合辐射源的情况下，用该文介绍的试验方法可以得到较好的结果。

关键词： 电子元件 损伤效应 EMP IEMP γ辐射

作者: 赵兴超 周启明

作者单位: 中国工程物理研究院应用电子学研究所(成都)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会

会议地点: 江苏扬州

会议语种:中文

页码: 317～321

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）